News:

NEUE Produkteinführung:
Multihit DLD (4-fach Detektor)
 mit einer Zählrate von über 100
 MCPS im Burst.

Produkteinführung unserer
neuen Multikanal Delayline-
detektoren

Multikanal Flexi-TDC für
Multihit-Messungen
jetzt verfügbar.

WinEDS(R) 4 für Win(R) XP prof.
und Winows(R) 2000
 Betriebssysteme

Beitritt von Surface Concept
zum Network of Competence

Surface Concept Gründer
 gewinnen den BESSY
Innovationspreis 2004

Neue USB2.0 Elektronik jetzt
verfügbar für alle
Delaylinedetektoren

Surface Concept übernimmt
EDS+REM Geschäft

Erfolgreiche Erstanwendung
eines Delaylinedetektors zum
Nachweis von Röntgenstrahlung

Surface Concept präsentiert
Wechsel Delaylinedetektoren
für Electronenmikroskope

SPECS präsentiert Surface
Concept Delaylinedetektor für
PHOIBOS Analysatoren

Technologieservice - profitieren Sie von unserer Erfahrung

Unsere langjährige Erfahrung auf den Gebieten der Oberflächenanalytik mit orts- und elementauflösenden Methoden sowie der Produktspezifizierung für den Einsatz im Vakuum (bis in den Ultrahoch-Vakuumbereich) bieten wir Ihnen auch als Technologiedienstleistung an.
Verschiedene Geräte und Analysemethoden stehen uns hierfür zur Verfügung.

Wir liefern eine umfangreiche Dokumentation aller gewonnenen Messergebnisse sowie einen zusammenfassenden Abschlussbericht.
 

Oberflächenanalytik

Für Strukturalysen und Elementzusammensetzungen von Oberflächen steht uns ein umfangreicher Gerätepark zur Verfügung, mit dem wir Ihnen folgende Analytikmethoden anbieten können:

• Rasterelektronenmikroskopie (REM) für Strukturanalysen von Oberflächen
   
• Röntgenmikrobereichsanalyse (EDX) in Kombination mit der Rasterelektronen- mikroskopie zur ortsaufgelösten Analyse von Elementzusammensetzungen
   
• Flugzeitmassenspektrometrie (ToF-SIMS)
   
• Photoemissionselektronenmikroskopie (PEEM) für Strukturanalysen von Oberflächen auch in Kombination mit der XAS
   
• Röntgenabsorptionsspektroskopie (XAS*) für eine ortsaufgelöste Analyse von Elementen in unterschiedlichen Bindungsumgebungen

*) Für die Röntgenabsorptionsspektroskopie wird Synchrotronstrahlung von Synchrotron- strahlungsquellen benötigt. Wir arbeiten hier mit der ANKA am Forschungszentrum Karlsruhe zusammen.   

Produktspezifizierung für Vakuumanwendungen

Für die Produktspezifizierung für Vakuumanwendungen stehen uns mehrere Vakuumkammern in verschiedenen Größen zur Verfügung mit denen wir Ihre Produkte auf ihre Kompabilität für den Hoch- und den Ultrahochvakuumbereich hin überprüfen können.
Eine Produktspezifizierung umfasst dabei folgende Aspekte (prinzipielle Auflistung, variiert produktabhängig):
 

• Funktionstest an Luft (Referenzmessung)
   
• Restgasanalyse mittels Massenspektrometrie zur Bestimmung des Ausgasungs- verhaltens im Vakuum im statischen Zustand
   
• Restgasanalyse bei gleichzeitigem Funktionstest zur Ermittlung des Ausgasungsverhalten während des Betriebs
   
• Ausheizen der Vakuumkammer samt Testprodukt zum Erreichen von Ultrahochvakuumbedingungen (Ausheiztemperatur 150°C, entfällt für Spezifikationen im Hochvakuumbereich)
   
• Restgasanalyse zur Bestimmung des Ausgasungsverhaltens im statischen Zustand nach dem Ausheizvorgang
   
• Funktionstest nach dem Ausheizvorgang mit gleichzeitiger Restgasanalyse zur Ermittlung des Ausgasungsverhalten während des Betriebs
   
• Spezifizierung des Enddruckbereichs

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