News:

NEUE Produkteinführung:
Multihit DLD (4-fach Detektor)
 mit einer Zählrate von über 100
 MCPS im Burst.

Produkteinführung unserer
neuen Multikanal Delayline-
detektoren

Multikanal Flexi-TDC für
Multihit-Messungen
jetzt verfügbar.

WinEDS(R) 4 für Win(R) XP prof.
und Winows(R) 2000
 Betriebssysteme

Beitritt von Surface Concept
zum Network of Competence

Surface Concept Gründer
 gewinnen den BESSY
Innovationspreis 2004

Neue USB2.0 Elektronik jetzt
verfügbar für alle
Delaylinedetektoren

Surface Concept übernimmt
EDS+REM Geschäft

Erfolgreiche Erstanwendung
eines Delaylinedetektors zum
Nachweis von Röntgenstrahlung

Surface Concept präsentiert
Wechsel Delaylinedetektoren
für Electronenmikroskope

SPECS präsentiert Surface
Concept Delaylinedetektor für
PHOIBOS Analysatoren

Delayline Detektoren – Abbildender Nachweis von Elektronen, Ionen & Photonen mit sub-ns Zeitauflösung

Flächendetektoren - Zeilendetektoren - 4-Quadranten Multihit Detektoren - kundenspezifische Ausführungen

Sprechen Sie uns an.
Oder greifen Sie auf unsere verschiedenen Standardanwendungen zurück, die Sie nachfolgend aufgelistet finden. Alle hier gezeigten Detektoren sind sowohl in der normalen DLD- als auch in der Hybridvariante erhältlich.
Alle DLDs finden sich auch in unserem neuen Katalog 2008 (pdf zum download, englische Version, 4,9 MB).

Standardhousings für Delayline Detektoren

Delayline Detektoren für Elektronenspektrometer

Besuchen Sie auch unseren Partner Specs GmbH für die Ausrüstung von Elektronenspektrometern mit Delayline Detektoren

Delayline Detektoren für Photoemissions-Elektronmikroskope

Wechsel DLD’s für Photoemissions-Elektronmikroskope

Zeitaufgelöste Röntgen-, EUV-Detektoren

Delayline Detektoren stellen eine optimale Lösung für die zweidimensionale und zeitaufgelöste dynamische Datenerfassung von Elektronen, Ionen und Photonen (X-ray, UV) dar. Die verwendete Zähltechnik erlaubt sowohl den Nachweis von Einzelereignissen als auch die Abbildung mit hohen Zählraten. Die Messung von Mehrfachkoinzidenzen und ein softwareunterstützes “Time Gating” ermöglicht eine enorme Verbesserung des Signal-zu-Untergrund Verhältnisses. Anwendungsbereiche finden sich z.B. an Elektronenspektrometern (u.a. Bandstrukturmessungen, XPS, UPS, ESCA, AES, stroboskopische Zeitexperimente) wie auch an Emissions-Elektronenmikroskopen (u.a. ToF-PEEM Anwendungen).
Optische Detektorvarianten finden auch in der Lifetime-Fluoreszenzspektroskopie Anwendung. Typische Anwendungen für Ionenanwendungen sind ToF-Massenspektroskopie und 3D Atom-Probe Mikroskopie.
Weiterführende Informationen zur Funktionsweise von Delayline Detektoren finden Sie in unserem neuen Katalog (pdf zum download, englische Version, 4,9 MB).

Wir bieten eine individuelle Anpassung von Detektoren an die unterschiedlichsten Kundenbedürfnisse, z.B. die Anpassung an Elektronen- Energieanalysatoren von Specs und Scienta oder die Anpassung der Detektionsfläche an kundenspezifische Größen.

Wir entwickeln unsere Systeme stetig weiter für eine kontinuierliche Verbesserung der Auflösung (Zeit und Ort) und Steigerung der Zählraten. Interessiert Sie der aktuelle Stand, dann sprechen Sie uns an. Unsere Roadmap zum 1GHz Delayline Detektor finden Sie hier

[Surface Concept] [Informationen über uns] [Produktübersicht] [Delayline Detektoren] [Ultraschnelle Elektronik] [EDS + REM] [Miniatur-Elektronenoptik] [Technologieservice] [Positioniersysteme] [Toolbox] [Hinweise]

Wenn Sie Fragen oder Anmerkungen haben, wenden Sie sich bitte an unseren Webmaster.
© Copyright 2005 - 2008 Surface Concept GmbH; Steuer Nr. 26/667/0562/9 USt-IdNr. DE814509963